譯者序
序言
致謝
符號與縮略語
第1章 緒論
1.1 激光光束質量測量的首要準則
1.2 激光光束質量研究的歷史、資源和現狀
1.3 激光器結構
1.4 激光輻射的基本性質
1.5 激光模式與模式分析
1.6 光束中心的一般測量方法
1.7 光束半徑和發散角的一般測量方法
1.8 光束質量衰減的常見誘因
1.9 常見光束質量測量方法
第2章 如何搭建M2測量設備
2.1 購買商用光束質量分析儀的準備事項
2.2 相關資源
2.3 儀器設備
2.4 暗電流噪聲及調零
2.5 數據窗口
2.6 曲線擬合
2.7 M2測量結果的誤差估計
2.8 刀口法
2.9 關於M2的結論
第3章 如何設計光束質量指標
3.1 概述：綜合、分析和比較
3.2 需求綜合
3.3 規範分析
3.4 對比性光束質量指標
3.5 示例：與VPIB相關的一般規範
3.6 示例：需求區域
3.7 示例：繫統光束質量指標
3.8 示例：核心及基座指標
第4章 光束質量指標間的轉換
4.1 高斯光束質量轉換
4.2 一般光束質量轉換
第5章 光束陣列
5.1 光束質量衰減的原因
5.2 針對光束陣列應用調整光束質量指標
5.3 假想實驗：發光單元損失
第6章 注意事項
6.1 描述高斯光束傳播的三種視角
6.2 非高斯高斯光束
6.3 截斷對高斯光束質量的影響
6.4 案例研究
6.5 廣告宣傳的目的
第7章 總結
附錄A
A.1 從高斯模式推導M2
A.2 IS0標準解析