第1章 磁電阻薄膜材料簡介
1.1 自旋電子學與磁電阻效應概況
1.2 各向異性磁電阻效應
1.2.1 微觀理論
1.2.2 磁化特性
1.2.3 常用各向異性磁電阻材料
1.3 巨磁電阻效應
1.3.1 多層膜巨磁電阻效應和雙電流模型
1.3.2 自旋閥巨磁電阻效應
1.4 自旋電子的鏡面反射
1.4.1 鏡面反射原理及其在納米氧化層自旋閥中的應用
1.4.2 電子鏡面反射對各向異性磁電阻的作用
第2章 NiFe薄膜材料研究現狀
2.1 成分與厚度對電輸運性能影響研究
2.2 晶粒尺寸與織構對電輸運性能影響研究
2.3 不同種子層對電輸運性能影響研究
2.4 利用界面插層提高電輸運性能研究
第3章 薄膜制備及結構性能表征方法
3.1 薄膜制備
3.1.1 基片清洗過程
3.1.2 薄膜樣品制備
3.1.3 元件制備方法
3.1.4 樣品的真空退火處理
3.2 薄膜結構性能表征方法
3.2.1 標準四探針法
3.2.2 振動樣品磁強計
3.2.3 x射線光電子能譜
3.2.4 x射線衍射
3.2.5 透射電子顯微鏡
第4章 非晶氧化物界面插層研究
4.1 概論
4.2 SiO2界面插層研究
4.2.1 SiO2界面插層對NiFe薄膜電輸運性能影響
4.2.2 SiO2界面插層對NiFe薄膜磁性影響
4.3 Al2O3界面插層研究
4.3.1 Al2O3界面插層對制備態NiFe薄膜結構與性能影響
4.3.2 Al2O3界面插層對退火態NiFe薄膜結構與性能影響
第5章 晶體氧化物界面插層研究
5.1 概論
5.2 MgO晶體氧化物界面插層研究
5.2.1 不同MgO插層位置對NiFe薄膜結構與性能影響
5.2.2 退火對Ta／MgO／NiFe／MgO／Ta薄膜結構與性能影響
5.3 ZnO晶體氧化物界面插層研究
5.3.1 ZnO界面插層對NiFe薄膜結構與電輸運性能影響
5.3.2 高溫退火對Ta／NiFe／ZnO／Ta薄膜磁性影響
第6章 具有強自旋軌道耦合的貴金屬界面插層研究
6.1 概論
6.2 貴金屬Au界面插層研究
6.2.1 Au界面插層對NiFe薄膜結構與性能影響
6.2.2 Ta／Au／NiFe／Au／Ta薄膜微結構研究