趙墨田主編的《分析化學手冊》第三版在第二版
的基礎上作了較大幅度的增補和刪減，在保持原手冊
10個分冊的基礎上，將其中3個分冊進行拆分，擴充
為了6冊，最終形成13冊。
《無機質譜分析》是其中一個分冊，共分四篇，
包括總論、同位素質譜分析、元素質譜分析和輔助技
術。首先概括性介紹無機質譜的發展歷史、背景、質
譜種類，根據質譜方法和研究對像的異同劃分，分別
對每種方法進行介紹，包括方法概述、儀器、基本原
理和方法特點，通過具體的實例闡釋實驗步驟、分析
結果計算。書後還附有無機質譜研究中經常要用到的
一些數據、參數以及主題詞索引和表索引，方便讀者
查閱。
本書適合地質、礦產、核分析科學與技術、化學
相關領域的研究人員和技術人員學習與查閱。

第一篇 總論
第一章 導論
第一節 質譜學發展簡史
一、質譜儀器
二、同位素質譜法
三、無機質譜法
第二節 名詞、術語
一、基礎名詞、術語
二、儀器相關名詞、術語
三、方法相關名詞、術語
第三節 相關基本常數和單位制
一、基本物理常數
二、**單位制的相關基本單位和導出單位
三、相關的單位換算
第四節 獲取信息的主要途徑
一、學術機構
二、期刊
參考文獻
第二章 質譜儀器
第一節 質譜儀器的基本結構和分類
一、質譜儀器的基本結構
二、質譜儀器的分類
第二節 進樣繫統
一、直接進樣繫統
二、間接進樣繫統
第三節 離子源
一、電子轟擊型離子源
二、離子轟擊型離子源
三、原子轟擊型離子源
四、放電型離子源
五、熱電離離子源
六、電感耦合等離子體離子源
七、其他類型的電離技術
第四節 質量分析器
一、磁式質量分析器
二、雙聚焦質量分析器
三、飛行時間質量分析器
四、四極濾質器
五、離子阱質量分析器
六、傅裡葉變換離子回旋共振質量分析器
第五節 離子檢測及數據處理
一、法拉第杯檢測器
二、電子倍增器
三、其他類型的離子檢測裝置
四、數據處理
第六節 真空繫統
一、質譜儀器的真空要求
二、真空的獲得及真空測量
三、各種真空組件
第七節 質譜儀器的主要技術指標
一、質量範圍
二、分辨本領
三、靈敏度
四、豐度靈敏度
五、精密度和準確度
參考文獻
第二篇 同位素質譜分析
第三章 氣體穩定同位素質譜法
第一節 氣體穩定同位素質譜概述
一、進樣繫統
二、離子源
三、質量分析器
四、檢測繫統
第二節 樣品制備技術
一、水中氫同位素制備技術
二、碳同位素制備技術
三、氮同位素制備技術
四、氧同位素制備技術
五、硫同位素制備技術
第三節 穩定同位素質譜分析法
一、穩定同位素的表示方法、標準及其分析流程
二、質譜分析數據計算
三、穩定同位素質譜分析誤差
參考文獻
第四章 熱電離質譜法
第一節 熱電離質譜法原理
一、熱電離
二、離子束聚焦、拉出
三、質量分離
四、離子檢測
第二節 熱電離質譜儀
一、離子源
二、質量分離器
三、離子檢測器
四、附屬設備
第三節 試驗方法
一、測量前的工作程序
二、測量方法
三、測量結果的表達
四、影響準確測量的主要因素
五、方法的主要特點
第四節 熱電離質譜法的應用
一、堿金屬、堿土金屬元素同位素測量
二、過渡元素測量
三、稀土元素測量（原子量測量）
四、錒繫元素測量
五、硼、氯、溴、氧、氮等非金屬元素同位素測量
參考文獻
第五章 加速器質譜法
第一節 加速器質譜方法原理與特點
第二節 AMS分析裝置
一、離子源與注入器
二、加速器
三、高能分析器
四、離子探測器
五、基於其他加速器的AMS裝置
第三節 加速器質譜測量過程與定量分析方法
一、測量過程
二、定量分析方法
三、測量實例
四、一些主要核素的測量情況
五、AMS測量極限與限制
第四節 加速器質譜應用研究
一、
二、
三、
四、
五、
六、其他核素
參考文獻
第六章 靜態真空質譜法
第一節 靜態真空質譜儀及其組成和類型
一、基本組件
二、真空繫統
三、熔樣裝置和進樣裝置
四、純化繫統
五、儀器類型
第二節 Ar同位素分析
一、Ar同位素分析方法
二、Ar含量計算方法
三、K-Ar法測年
四、40Ar/39Ar法測年
五、Ar同位素測年在地學中的應用
第三節 He同位素分析
一、He同位素分析方法
二、He含量計算方法
三、He同位素的應用
第四節 Ne同位素分析
一、Ne 同位素分析方法
二、Ne 同位素研究的應用
第五節 Kr同位素分析
第六節 Xe同位素分析
一、Xe同位素分析方法
二、Xe同位素的應用
參考文獻
第七章 多接收電感耦合等離子體質譜法
第一節 方法原理和特點
第二節 質譜儀
一、進樣繫統
二、電感耦合等離子體源
三、單/雙聚焦質量分析器
四、離子檢測器
第三節 測量方法
一、測量方法概述
二、測量中的常見問題及解決方法
第四節 技術應用
一、復雜基體樣品中同位素比值測量
二、高純物質中同位素組成和原子量測量
三、激光剝蝕與多接收電感耦合等離子體質譜聯用技術的應用
參考文獻
第八章 高分辨雙聚焦二次離子
質譜法
第一節 雙聚焦原理
一、能量聚焦-靜電分析器
二、方向聚焦-磁分析器
三、雙聚焦
第二節 儀器
一、儀器結構
二、儀器舉例
第三節 方法及其應用
一、含鈾礦物U-Th-Pb同位素
二、地球物質的同位素
三、隕石、月球、星際物質的穩定同位素
四、古氣候
五、地球早期生命
六、環境微生物生態學
七、核電站安全性監測
八、摻雜成分濃度分析
九、深度分析
參考文獻
第九章 激光共振電離質譜法
第一節 LRIMS分析原理
一、概述
二、LRIMS方法原理與特點
第二節 激光共振電離質譜儀
一、激光共振電離離子源
二、激光共振電離激光器繫統
三、質量分析器
四、探測器
第三節 LRIMS定量分析方法
一、激光共振電離方案選擇
二、激光誘導同位素選擇效應
三、LRIMS分析實例
第四節 LRIMS裝置及應用
一、高元素選擇性?
二、高同位素選擇性?
三、其他一些**的LRIMS裝置
參考文獻
第三篇 元素質譜分析
第十章 電感耦合等離子體四極杆質譜法
第一節 概述
一、電感耦合等離子體質譜技術發展概況
二、ICP-MS儀器的基本結構
三、ICP-MS的特點
四、ICP質譜儀的性能對比
第二節 ICP離子源
一、作為離子源的
二、射頻發生器
三、ICP放電的一般性質
第三節 樣品引入繫統
一、液體樣品引入
二、氣體樣品引入
三、固體樣品引入
第四節 質量分析器
第五節 離子檢測器
第六節 ICP-MS的干擾及其克服
一、質譜干擾
二、非質譜干擾
第七節 ICP-MS定性與半定量及定量分析
一、定性分析
二、半定量分析
三、定量分析
第八節 ICP-QMS法的應用
一、ICP-QMS在地質科學中的應用
二、ICP-QMS在環境檢測中的應用
三、ICP-QMS在生物與醫藥衛生中的應用
四、ICP-QMS在食品科技中的應用
五、ICP-QMS在冶金工業中的應用
六、ICP-QMS在放射性核素監測中的應用
七、ICP-QMS在元素形態分析中的應用
參考文獻
第十一章 高分辨電感耦合等離子體質譜法
第一節 HR-ICP-MS儀器的基本結構及特點
一、離子源
二、接口錐及真空繫統
三、離子調制
四、質量分析器
五、檢測器
第二節 HR-ICP-MS質譜儀的品質因素
一、分辨率
二、靈敏度
三、分辨率與靈敏度的相關性
四、背景噪聲
第三節 HR-ICP-MS的應用
一、HR-ICP-MS在半導體測量中的應用
二、HR-ICP-MS在材料科學中的應用
三、HR-ICP-MS在地質與冶金中的應用
四、HR-ICP-MS在核科學中的應用
五、HR-ICP-MS在化學與石化中的應用
六、HR-ICP-MS在環境科學中的應用
七、HR-ICP-MS在農業中的應用
八、HR-ICP-MS在法證學中的應用
九、HR-ICP-MS在生物與醫療中的應用
十、HR-ICP-MS在食品與藥物中的應用
參考文獻
第十二章 飛行時間二次離子質譜法
第一節 飛行時間二次離子質譜法原理
一、TOF-SIMS發展歷史
二、SIMS檢測原理
三、SIMS主要分析模式和儀器操作模式
四、SIMS儀器的優點及局限性
五、對樣品的要求
六、TOF-SIMS的應用
第二節 飛行時間二次離子質譜儀
一、儀器結構
二、一次離子源
三、二次離子分析繫統—TOF質量分析器
四、進樣繫統及載樣控制臺
五、真空繫統
第三節 儀器的操作模式
一、TOF-SIMS儀器的操作模式
二、*緣樣品的荷電補償
第四節 定性與定量分析方法
一、定性分析
二、定量分析
第五節 方法應用
一、腐蝕科學：氧化皮的分析
二、電子材料表征
三、多相催化劑的研究
四、環境檢測：氣溶膠及汽車尾氣顆粒表面成分分析
五、煤科學：煤表面成分及其賦存情況的表征
六、冶金：礦物浮選的研究
七、有機材料的表征
參考文獻
第十三章 雙聚焦二次離子質譜法
第一節 一次離子源
一、雙等離子體離子源
二、金屬表面直接加熱電離源--Cs＋
三、液態金屬離子源--Ga＋
四、一次離子源的選擇
第二節 離子光學
一、一次離子束的合軸和掃描
二、二次離子光路中的浸沒透鏡
第三節 二次離子發射機理
一、濺射產額
二、二次離子產額
第四節 質量分析器與離子檢測繫統
一、質量分析器
二、離子檢測繫統
第五節 二次離子質譜儀
一、雙聚焦二次離子質譜儀的分類
二、IMS繫列
三、樣品需求
第六節 二次離子質譜法的功能
一、深度剖析
二、質譜分析--質量掃描
三、線掃描（二次離子質譜的橫向線分析）
四、微區分析
五、三維分析
六、定量分析
第七節 二次離子質譜法的應用
一、宇宙塵埃質譜分析
二、深度剖析的應用
三、線掃描分析（金屬中雜質氫的檢測）
四、同位素分析-核燃料235U是否給周圍環境帶來放射性污染的檢測
五、二次離子圖像分析
六、*緣樣品的分析-雜質在SOI材料中的分布
七、硅中痕量硼二次離子質譜定量分析的異常現像
第八節 雙聚焦二次離子質譜分析常用數據
一、檢測限
二、濺射產額
三、質量干擾
四、相對靈敏度因子（RSF）
參考文獻
第十四章 輝光放電質譜法
第一節 方法原理
一、輝光放電的產生
二、樣品的濺射和電離
三、質譜干擾
第二節 輝光放電質譜儀
一、質譜儀器
二、離子源
三、質量分析器
四、檢測繫統
第三節 實驗方法及特點
一、樣品制備與預處理
二、分析參數的選擇與分析過程
三、分析特點
四、分析重現性
五、干擾峰的排除
第四節 半定量與定量分析
一、半定量分析
二、定量分析
第五節 方法應用
一、金屬及半導體材料分析
二、非導體材料分析
三、深度分析
四、同位素豐度測量
五、測量用標準物質
參考文獻
第十五章 同位素稀釋質譜法
第一節 基本原理
一、同位素稀釋技術
二、雙同位素稀釋技術
第二節 使用儀器
一、高精度天平
二、質譜儀
第三節 實驗方法
一、實驗程序
二、稀釋劑溶液的制備
三、*佳稀釋比計算
四、混合樣品的制備技術
五、同位素豐度測量
六、結果計算
第四節 制約測量值不確定度的主要因素
一、稀釋劑的選擇和混合樣品的制備
二、混合樣品的*佳稀釋比
三、混合樣品的均勻性
四、實驗過程的流程空白
第五節 同位素稀釋質譜法的應用
一、IDMS在核科學研究中的應用
二、IDMS在地學中的應用
三、IDMS在環境科學中的應用
四、在生命科學中的應用
五、高純物質分析
六、IDMS在化學計量中的應用
參考文獻
第四篇 輔 助 技 術
第十六章 樣品制備技術
第一節 質譜測量對樣品的基本要求
第二節 水與酸的提純
一、分析空白
二、水的提純
三、酸的提純
第三節 氣體樣品制備
一、樣品預處理
二、氣體樣品制備實例
第四節 溶液樣品制備
一、樣品分解
二、直接稀釋法
三、酸分解法
四、堿熔融法
五、樣品的分離富集
第五節 固定樣品制備
一、固體樣品制備特點
二、固體樣品制備實例
參考文獻
第十七章 計算機在質譜分析中的應用
第一節 數據采集與處理
一、離子信號的數據采集
二、質譜數據處理
第二節 控制儀器運行
一、儀器的基本控制
二、儀器的復雜控制
第三節 儀器的自動保護
一、高壓保護
二、真空繫統的保護
三、其他保護
第四節 儀器故障診斷
參考文獻
第十八章 質譜分析誤差
第一節 有關誤差的基本術語
一、誤差的定義
二、誤差的相關術語
三、統計的相關術語
四、誤差的分類
第二節 分析誤差
一、質量歧視效應
二、空間電荷效應
三、譜峰疊加的干擾
四、記憶效應
五、儀器的死時間
六、雙電荷離子
七、非質譜干擾
第三節 測量值的不確定度
一、不確定度術語
二、A類標準不確定度評定
三、B類標準不確定度評定
四、合成標準不確定度
五、擴展不確定度
六、測量不確定度報告
第四節 測量值的校正
一、內部校正法
二、外部校正法
第五節 測量值的溯源性
一、溯源性的含義
二、化學測量的溯源性
三、同位素測量量值的溯源性
參考文獻
第十九章 標準物質與質譜分析法
第一節 概述
一、標準物質的概念
二、標準物質的特性
三、標準物質的分類
四、標準物質的分級
第二節 有證標準物質的功能和使用
一、有證標準物質的功能
二、標準物質的使用原則
第三節 標準物質與質譜分析法的關聯性
一、標準物質在質譜分析中的作用
二、質譜分析法在標準物質研制中的作用
第四節 標準物質的研制
一、立項、技術路線和研制程序
二、同位素標準物質的研制
三、化學成分量標準物質的研制
第五節 標準物質信息的獲取
一、**標準化組織/標準物質委員會
二、**標準物質數據庫
三、天然基體標準物質數據庫
四、歐洲標準物質
五、中國**標準物質信息
服務平臺
參考文獻
附錄
Ⅰ 元素原子量
Ⅱ 原子質量表
Ⅲ 元素同位素組成
Ⅳ 元素同位素及同量異位素
Ⅴ 元素的基本參數
Ⅵ 元素周期表
主題詞索引
表索引