●第1章 緒論11.1 ADC發展現狀11.2 ADC基礎指標21.2.1 靜態指標21.2.2 動態指標51.3 ADC基本架構與原理71.3.1 閃存（Flash）ADC71.3.2 積分（Integrating）ADC81.3.3 循環（Cyclic）ADC91.3.4 逐次逼近（SAR）ADC101.3.5 德爾塔-西格瑪（Delta-Sigma, Δ-Σ）ADC111.3.6 二步式（TS）ADC131.3.7 流水線（Pipeline）ADC141.3.8 時間交織（TI）ADC151.3.9 ADC架構比較16第2章 ADC發展趨勢與SAR ADC繫統172.1 ADC發展趨勢172.1.1 技術按比例縮小帶來的挑戰182.1.2 ADC體繫結構概述192.1.3 ADC趨勢202.2 SAR ADC繫統252.2.1 SAR ADC核心電路262.2.2 SAR ADC輔助電路292.2.3 14位二步式SAR ADC原理302.2.4 14位二步式SAR ADC設計指標34第3章 比較器363.1 比較器基礎指標363.2 靜態比較器373.3 動態比較器383.4 比較器增益與速度403.4.1 前置放大器403.4.2 動態比較器483.4.3 整體比較器483.5 比較器輸入失調電壓523.5.1 前置放大器失調仿真533.5.2 動態鎖存器失調仿真583.6 比較器噪聲653.6.1 前置放大器噪聲653.6.2 動態鎖存器噪聲693.7 比較器功耗73第4章 數/模轉換器（DAC）744.1 電容DAC基礎架構754.2 單位電容值――失配774.3 整體電容值―― kT/C噪聲824.4 DAC噪聲834.5 DAC開關設計844.6 DAC功耗854.7 比例基準二步式DAC設計實例864.7.1 DAC架構864.7.2 失配與kT/C噪聲864.7.3 開關設計884.7.4 整體實現91第5章 逐次逼近寄存器（SAR）邏輯935.1 同步SAR邏輯935.2 異步SAR邏輯945.3 SAR邏輯速度、面積與功耗955.4 SAR邏輯設計實例965.4.1 采樣時序控制965.4.2 SAR電路965.4.3 優選位漏電問題985.4.4 高低位銜接ULS信號與高低位MUX選擇1025.4.5 SAR邏輯整體實現106第6章 整體仿真與設計1086.1 整體仿真驗證1086.1.1 直流仿真1106.1.2 交流仿真1156.1.3 噪聲仿真1206.1.4 DNL/INL仿真1216.2 接口電路與整體布局125第7章 SAR ADC測試1267.1 測試繫統1267.2 靜態測試1297.3 動態測試1317.4 二步式SAR ADC測試結果133第8章 校正算法1368.1 校正技術概述1368.2 模擬前端校正1378.3 模擬後端校正1388.4 數字前端校正1398.5 數字後端校正1408.6 校正算法總結1418.7 校正應用實例――模擬前端校正應用142第9章 采樣1529.1 信號采樣1529.2 信號重建1549.3 采樣開關設計1569.4 采樣保持電路1599.4.1 采樣保持概述1599.4.2 CMOS采樣保持電路162第10章 MATLAB在ADC中的應用16410.1 MATLAB仿真軟件簡介16410.2 閃存ADC建模16610.3 SAR ADC建模17110.4 Δ-Σ ADC建模17710.5 流水線ADC建模180第11章 模擬後端數據處理與分析18411.1 信號濾波18411.2 數據處理191附錄A 工藝參數提取193A.1 閾值電壓195A.2 β (μCOXW/L)與K(μCOX)199A.3 溝道調制繫數201A.4 背柵效應繫數203A.5 柵極電容密度204A.6 方塊導通電阻205A.7 工藝參數總結205A.8 gm / Id曲線206附錄B ADC測試代碼208B.1 DNL/INL代碼208B.2 FFT分析代碼210附錄C 本書常用術語表214參考文獻216
