前言
第一章 偏光顯微鏡與岩石薄片的制作
第一節 偏光顯微鏡的構造
第二節 偏光顯微鏡的光學繫統
第三節 岩石薄片的制作
第二章 晶體光學的基本實驗內容
第一節 單偏光繫統的基本實驗內容
一、礦物的形態
二、礦物解理的**程度與解理夾角的測定
三、薄片中礦物的顏色與多色性、吸收性公式
四、礦物邊緣、貝克線與糙面的觀察
五、礦物突起等級的識別
第二節 正交偏光繫統的基本實驗內容
一、礦物薄片的消光現像及消光位的觀察
二、非均質體光率體橢圓半徑方向和名稱測定
三、干涉色級序的測定
四、雙折率的測定
五、消光類型與消光角的測定
六、晶體延性符號的測定
七、雙晶的觀察
第三節 錐光繫統的基本實驗內容
一、一軸晶垂直光軸切片干涉圖的應用
二、二軸晶垂直銳角等分線切片的干涉圖的應用
三、二軸晶垂直一個光軸切片的干涉圖的應用
第四節 透明礦物薄片的繫統鋻定
一、透明礦物薄片繫統鋻定的內容和步驟
二、常見造岩礦物的主要光性特征
第三章 岩石的物質成分
第一節 岩漿岩、變質岩、沉積岩的基本概念
第二節 岩漿岩的物質成分
一、硅鋁礦物和鐵鎂礦物
二、主要礦物、次要礦物、副礦物
第三節 變質岩的物質成分
一、富鋁（泥質）繫列
二、硅鋁質（長英質）繫列
三、鈣鎂質（碳酸鹽）繫列
四、鐵鎂質（基性）繫列
五、鎂質（超基性）繫列
第四節 沉積岩的物質成分
一、二氧化硅礦物
二、長石
三、雲母
四、岩屑
五、黏土礦物
六、火山碎屑物
七、沸石
八、碳酸鹽礦物
九、硫酸鹽礦物
十、其他礦物
第四章 岩漿岩的常用研究方法